恒溫恒濕試驗(yàn)箱，又稱恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱，適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/高低溫循環(huán)試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/濕熱試驗(yàn)/恒定濕熱試驗(yàn)/交變濕熱試驗(yàn)。
產(chǎn)品介紹
星拓濕熱試驗(yàn)箱溫濕度相對(duì)區(qū)域圖
1.6.星拓恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備證書(shū)
計(jì)算機(jī)軟件著作權(quán)登記證書(shū)：節(jié)能型可程式溫濕度控制系統(tǒng)V1.0
實(shí)用新型專利證書(shū)：
一種產(chǎn)品測(cè)試用環(huán)境模擬試驗(yàn)箱 （專利號(hào)：ZL 2017 2 0229840.4）
一種密封型環(huán)境溫度試驗(yàn)箱裝置 （專利號(hào)：ZL 2017 2 0208862.2）
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
5）GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) (IEC 60068-2-78：2012, IDT)；
6）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）(IEC 60068-2-30:2005, IDT)；
7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
8）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
9）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
10）GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)。
注：支持非標(biāo)定制
