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廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備科技有限公司

技術(shù)解答
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PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱的用途

  PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱(又名PCT老化試驗(yàn)箱)是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間,主要是模擬氣候環(huán)境測(cè)試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗(yàn)設(shè)備。其廣泛應(yīng)用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。

星拓PCT加速老化試驗(yàn)箱APCT-S系列.jpg


    PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱最主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故障原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

依據(jù)試驗(yàn)濕度飽和度可劃分為:飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱及非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱


星拓PCT老化箱.jpg


非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法:

MS IEC 60068-2-66-2008  環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分-試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx-穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱應(yīng)用領(lǐng)域:

航空航天  國(guó)防軍工  汽車機(jī)電  信息通訊  能源材料  行業(yè)定制

突出特點(diǎn):不銹鋼圓型內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì);采用抽屜式大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),并易拆卸清洗;蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,查漏徹底,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行;搭載進(jìn)口控制系統(tǒng)微電腦 P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度,帶有水位不足時(shí)提供警示功能;精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少


星拓非飽和PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)APCT系列.jpg


    不銹鋼圓型內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì);采用抽屜式大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),并易拆卸清洗;蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,查漏徹底,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行;采用觸摸屏控制器,多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法功能顯示;采用觸摸屏控制器;蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,查漏徹底,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行;搭載進(jìn)口控制系統(tǒng)微電腦 P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度,帶有水位不足時(shí)提供警示功能;精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少